专利名称：光耦检测装置专利类型：实用新型专利发明人：赵玉玲,李正军,张硕申请号：CN200920109668.4申请日：20090701公开号：CN201459415U公开日：20100512
摘要：本实用新型涉及一种光耦检测装置，包括安装在过线器背面分别与所述过线器的上滑轮和下滑轮同轴连接的上光栅和下光栅，还包括：在所述上光栅和所述下光栅之间，固定安装在所述过线器背面的光耦板；分别固定安装在所述光耦板两侧面上与所述上光栅和所述下光栅一一对应配合的上槽型光耦和下槽型光耦，所述上槽型光耦和所述下槽型光耦的管脚分别与所述光耦板内部的导线电连接。通过光耦板将上槽型光耦和下槽型光耦固定安装在过线器背面与上光栅和下光栅一一对应配合，提高光耦检测装置工作效率，降低设备维护成本。
申请人：北京兴大豪科技开发有限公司
地址：100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号M7
国籍：CN
代理机构：北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人：余丽
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