一种单光子探测器的测试装置及其测试方法[发明专利]

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专利名称：一种单光子探测器的测试装置及其测试方法专利类型：发明专利发明人：姚海涛,江晓,张海亭申请号：CN201510272222.3申请日：20150525公开号：CN106197692A公开日：20161207

摘要：本发明公开了一种单光子探测器的测试装置，包括主控电路、窄脉冲光源、上位机；主控电路产生发送给待测单光子探测器的门控触发信号及发给窄脉冲光源的随机光源触发信号，并对收到的待测单光子探测器的探测器计数信号进行处理，得到有效光计数及无效计数：暗计数、后脉冲；窄脉冲光源接收随机光源触发信号，产生光脉冲，使每脉冲平均光子数达到单光子水平的设定值，将随机光脉冲接到待测单光子探测器的光输入端口；上位机与主控电路相连。本发明还公开了使用该单光子探测器的测试装置进行测试的方法。本发明的优点在于：只需进行简单的设置，便能自动完成整个测试过程，能够在几分钟内完成对待测单光子探测器多个性能参数的测试，非常高效便捷。

申请人：科大国盾量子技术股份有限公司

地址：230088 安徽省合肥市高新区望江西路800号合肥创新产业园D3楼

国籍：CN

代理机构：合肥市浩智运专利代理事务所(普通合伙)

代理人：丁瑞瑞

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