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TP检验规范

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深圳市联合盛(第二事业部)电子有限公司 Lian He Sheng Electronics CO.,Ltd.Shenzhen TP来料检验规范 制定日期: 版 本: 制 作: 2015-1-4 AO 钟承全 文件编号: 页 数: 核 准: QP-GC-001 第 1 页 共 4 页

TP 来 料 检 验 规 范

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1 深圳市联合盛(第二事业部)电子有限公司 Lian He Sheng Electronics CO.,Ltd.Shenzhen TP来料检验规范 制定日期: 版 本: 制 作: 2015-1-4 AO 钟承全 文件编号: 页 数: 核 准: QP-GC-001 第 4 页 共 4 页 1. 目的 明确TP原材料的检验与试验标准,明确检验方法,确保来料质量符合要求 2. 适用范围 本公司所使用的各种TP原材料 3. 检验仪器和设备 万用表,烙铁,游标卡尺,钢球,TP测试架、电脑、黑色背景、菲林尺、台灯、离子风机 4. 定义(无) 5. 检测条件 5.1 灯光照度:1000-1500LUX 5.2 检测距离:与被测物目视距离为30±5CM 5.3 检验员视力:≥1.0(矫正视力) 5.4 检验时间:5-10s 5.5 检验角度:眼睛与被测物成45° 5.6 检验时必须佩戴干净的手指套(最少佩戴6pcs,左小拇指,右小拇指以及左无名指可不带指套) 6 检验标准说明 6.1正常情况下触摸板的外观检验依据本标准执行 6.2如有签订“限度样板”的则以“限度样板”为标准,“限度样板”须由工程师或以上级别人员签订生效 6.3以下检验标准中所提到的不良缺陷的数目均指单面上的不良缺陷数目 6.4所有的A类缺陷都为(0,1)判定 7 抽样方案 抽样检查 判别 项目序号 检验项目 抽样方案 AQL RQL 判定数组 频率 水平 水平 GB2828正常B=0.4 9 外观 每批 II 检验单次 C=1.0 B=30 n=5, Ac=0,Re=1 GB2829 单 10 尺寸 每批 II 次 B=65 n=5, Ac=1,Re=2 GB2829 单11 端点间阻抗 每批 II B=30 n=5, Ac=0,Re=1 次 高温高湿存贮,3个月/12.1,12.2 低温存贮 B=50 n=3, Ac=0,Re=1 次或GB2829 单12.5,12.6 抗冲击 II 10万次 12.8 耐醇试验 每次 C=100 n=3, Ac=1,Re=2 硬度测试 6个月/B=50 n=3, Ac=0,Re=1 耐磨寿命 次或GB2829 单12.3,12.4 II 点击寿命 20万次 C=100 n=3, Ac=1,Re=2 每次 GB2829 单12.7 排线折弯试验 每批 II B=80 n=1, Ac=0,Re=1 次 8 常用单位代码表 项目名称 数目 直径 深度/高度 距离 长度 宽度 面积 (个) (mm) (mm) (mm) (mm) (mm) (mm^2) 对应代码 N Φ H DS L W S 管制文件,严禁翻印Control document,Can’t be copy 2 深圳市联合盛(第二事业部)电子有限公司 Lian He Sheng Electronics CO.,Ltd.Shenzhen TP来料检验规范 制定日期: 版 本: 制 作: 序 号 检验项目 A区不能有黑点,白点,顶伤,扎伤,黑斑,白斑等异色点状缺陷,B区黑点目视检验偏灰,白点目视检验偏无色 A区不能有气泡等非异色点状缺陷;B区气泡等非异色点状缺陷标准为 Φ>0.2mm 0.1mm≤Φ≤0.2mm N≤2 DS>10cm DS≤10cm N>2 Φ<0.1mm,但不是多点聚集在一起,没点相聚10cm以上 Φ>0.2mm DS>10cm N≤2 0.1mm<Φ≤0.2mm DS≤10cm N>2 Φ≤0.1mm,但不是多点聚集在一起 W<0.05mm N>2条 0.5 mm≤L≤1mm DS>10cm N≤2条 DS≤10cm 0.05 mm≤W<0.1mm 单条 0.5 mm≤L≤1mm N>2条 L>1mm W≥0.1mm 任何角度可见 错误或无 少线,断线或短路 溅入可视区域 模糊,少笔划 溅点 漏印3个或以上的网点 网点直径超出规格 网点拖尾 FPC线边缘撕裂、短路、开路 9 FPC排线 FPC线未与银浆线连接 FPC线压反 FPC线露铜、有折痕,金手指氧化、脏污、不平整 裂纹 断裂 裁切边缘不平整(波浪形) 裁切到银浆线边缘 ITO膜鼓起>0.2mm ITO膜与玻璃偏位>0.1mm,刮手 L≤1 mm且W≤0.5mm且H≤GT(玻璃厚度) L>1mm或W>0.5mm或H>GT(玻璃厚度) D≥2mm D<2mm 溢胶到可视区或无背胶, 背胶厚度必须符合承认书要求 防尘棉厚度对照承认书,防尘棉与防尘棉之间的缝隙≥1mm 2015-1-4 AO 钟承全 缺陷描述 文件编号: 页 数: 核 准: QP-GC-001 第 4 页 共 4 页 缺陷判定 B C ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● 9 外观检验标准 A 1 2 3 无感划伤等线状缺陷 4 5 6 7 有感划伤等线状缺陷 产品型号丝印 银浆线 丝印 允收 允收 允收 允收 允收 允收 允收 按异色点标准执行 ● 按异色点标准执行 ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● ● 8 网点 10 玻璃 11 13 13 14 ITO膜 角/边破损 牛顿环 背胶 10 尺寸检验 检验条件与方法 参照规格书,使用卡尺测量触摸板的长度,宽度,厚度等关键尺寸(关键尺寸详见规格书的规定) 缺陷内容 尺寸超出上下限≥0.1mm 尺寸超出上下限≤0.1mm 缺陷内容 缺陷判定 A B C ● 缺陷判定 ● 11 端点间阻抗测试 检验条件与方法 管制文件,严禁翻印Control document,Can’t be copy 3 深圳市联合盛(第二事业部)电子有限公司 Lian He Sheng Electronics CO.,Ltd.Shenzhen TP来料检验规范 制定日期: 版 本: 制 作: 2015-1-4 AO 钟承全 文件编号: 页 数: 核 准: 阻值偏大或偏小 QP-GC-001 第 4 页 共 4 页 A B ● C 参照规格书,使用万用表测量X/Y端点阻抗 12 试验标准 12.1高温高湿储存 试验条件与方法 温度:60℃,湿度90%--95%,储存时间:16H,再常温冷却2H 进行外观和功能测试 缺陷内容 ITO膜,玻璃脱落 透光性变弱 背胶无粘性 端子间阻抗偏大或偏小 缺陷内容 ITO膜,玻璃脱落 背胶无粘性 透光性变弱 端子间阻抗偏大或偏小 缺陷内容 ITO膜破损 端子间阻抗偏大或偏小 点击点跳笔 缺陷内容 ITO膜破损 端子间阻抗偏大或偏小 缺陷内容 玻璃破碎,裂纹 缺陷判定 A B C ● ● ● ● 缺陷判定 A B C ● ● ● ● 缺陷判定 A B C ● ● ● 缺陷判定 A B C ● ● 缺陷判定 A B C ● 12.2低温存贮 试验条件与方法 温度:-20℃,储存时间:16H,再常温冷却2H时,进行外观和功能测试 12.3点击寿命 试验条件与方法 使用直径2mm的聚纤维酯笔,施加约150g力,点击同一位置100万次,点击频率:2次/秒 12.4耐磨寿命 试验条件与方法 使用直径2mm的聚纤维酯笔,施加约150g力,来回划线,一来一回为一次,共10万次,移动速度:40次/分钟 12.5抗冲击 试验条件与方法 直径25mm(65g)的不锈钢钢球从50CM高自由跌落到触摸板表面,跌落在5个不同的地方(四角加),每个地方跌落1次 12.6耐醇试验 试验条件与方法 ITO膜变色 95%酒精,150g砝码,来回共20次 玻璃的透光性减弱 ● 缺陷内容 缺陷判定 A B C ● 12.7排线折弯试验 试验条件与方法 弯曲半径为2mm,来回共折20次 缺陷内容 FPC排线断裂 缺陷判定 A B C ● 12.8 硬度试验 试验方法 用5H铅笔,将笔芯削成圆柱形在400目砂纸上磨平后,施加1Kg的力,以45°角,推动铅笔向前在产品表面上滑动5mm长(共划3条),再用橡皮擦将铅笔痕擦拭干净后, 检查表面上有无划痕 缺陷内容 没有划痕 有划痕 缺陷判定 A B ● C 允收 ● 管制文件,严禁翻印Control document,Can’t be copy

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