半导体光源温度场测量装置[实用新型专利]

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专利名称：半导体光源温度场测量装置专利类型：实用新型专利发明人：李学夔,谭海曙,黄杨程申请号：CN200920053237.0申请日：20090320公开号：CN2013201Y公开日：20091216

摘要：本实用新型公开了一种半导体光源温度场测量装置，它能在生产过程中对半导体光源温度场进行实时测量、监控和分析，借助于半导体光源温度场监测软件，实时在线监控产品质量，发现具有故障隐患的器件，及时调整工艺参数以提高产品成品率。该测量装置包括红外成像模块，对半导体光源目标进行红外辐射成像，并将图像处理成数据输出至计算机；所述计算机通过红外成像模块的数据接口接收红外图案数据，将操作命令传输给红外成像模块；以及向红外成像模块提供所需的稳定的工作电源。

申请人：李学夔

地址：528000 广东省佛山市禅城区江湾一路18号佛山科学技术学院机电学院

国籍：CN

代理机构：佛山市永裕信专利代理有限公司

代理人：朱永忠

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