专利名称:半导体光源温度场测量装置专利类型:实用新型专利发明人:李学夔,谭海曙,黄杨程申请号:CN200920053237.0申请日:20090320公开号:CN2013201Y公开日:20091216
摘要:本实用新型公开了一种半导体光源温度场测量装置,它能在生产过程中对半导体光源温度场进行实时测量、监控和分析,借助于半导体光源温度场监测软件,实时在线监控产品质量,发现具有故障隐患的器件,及时调整工艺参数以提高产品成品率。该测量装置包括红外成像模块,对半导体光源目标进行红外辐射成像,并将图像处理成数据输出至计算机;所述计算机通过红外成像模块的数据接口接收红外图案数据,将操作命令传输给红外成像模块;以及向红外成像模块提供所需的稳定的工作电源。
申请人:李学夔
地址:528000 广东省佛山市禅城区江湾一路18号佛山科学技术学院机电学院
国籍:CN
代理机构:佛山市永裕信专利代理有限公司
代理人:朱永忠
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