专利名称：收集颗粒的采样装置专利类型：实用新型专利发明人：刘夜明,耿松,金鑫申请号：CN201721650685.X申请日：20171130公开号：CN207636358U公开日：20180720
摘要：本实用新型公开了一种收集颗粒的采样装置，所述采样装置包括：采样部件以及主机体，所述采样部件包括采样盒和至少一个过滤膜，所述采样盒具有进口和出口，所述过滤膜位于所述进口和所述出口之间，所述主机体内设有引风部件，所述引风部件与所述采样盒的出口连接，以使气流自所述采样盒的进口向所述采样盒的出口流动。根据本实用新型实施例的收集颗粒的采样装置，通过设置采样部件以及主体机，使采样装置可以通过引风部件吸入待采样空间内的空气，并在采样部件处，通过采样盒中的过滤膜对空气进行过滤，以使颗粒被截留在过滤膜上，进而通过采样装置对待采样空间内的颗粒进行采集。
申请人：京东方科技集团股份有限公司,成都京东方光电科技有限公司
地址：100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号
国籍：CN
代理机构：北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人：黄德海
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