专利名称：光波测距经纬仪专利类型：外观专利发明人：石井光男
申请号：CN201730040751.0申请日：20170216公开号：CN304283487S公开日：20170915
专利附图：
申请人：株式会社拓普康
地址：日本东京都
国籍：JP
代理机构：北京聿宏知识产权代理有限公司
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