专利名称：一种极薄覆盖层厚度的测量方法专利类型：发明专利发明人：程祥勇,廖立新申请号：CN201010608424.8申请日：20101228公开号：CN1025326A公开日：20120711
摘要：一种极薄覆盖层厚度的测量方法，是在金相试样上，采用斜交于覆盖层取样，按照GB62-86《金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》通过显微镜测量试样的厚度值，其试样基作方法是：沿垂直于覆盖层的截取面截取试样，得到的截面为检测面，测得其厚度测量值为a，在与覆盖层表面斜交、夹角为α的面截取检测放大面，得到检测放大面，测得其厚度测量值为b，则最终测定值δ＝bsinα。
申请人：中国航空工业标准件制造有限责任公司
地址：550014 贵州省贵阳市白云区白云南路355号
国籍：CN
代理机构：贵州国防工业专利中心
代理人：蔡丽华
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