通过测试数据实现芯片追溯的方法[发明专利]

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专利内容由知识产权出版社提供

专利名称：通过测试数据实现芯片追溯的方法专利类型：发明专利发明人：陈真

申请号：CN201510526376.0申请日：20150825公开号：CN105067992A公开日：20151118

摘要：本发明涉及一种通过测试数据实现芯片追溯的方法，其包括如下步骤：步骤1、将待测试芯片与测试机进行硬件连接，以便能对所述待测试芯片进行测试；步骤2、利用测试机进行测试，并在测试机生成所需的测试数据，所述测试数据内包含与每个通过测试芯片呈一一对应的唯一数值代码；步骤3、读取测试机内的测试数据，并根据测试数据内与测试芯片对应的数值代码实现对芯片追溯。本发明操作方便，能快速有效精确实现芯片的追溯，适应范围广，安全可靠。

申请人：无锡中微腾芯电子有限公司

地址：214035 江苏省无锡市滨湖区惠河路5号208信箱

国籍：CN

代理机构：无锡市大为专利商标事务所(普通合伙)

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