专利名称：测量物体的有效原子序数的方法和设备专利类型：发明专利
发明人：李树伟,陈志强,李元景,赵自然,刘以农,张清军,朱维
斌,王义,赵书清,张文剑
申请号：CN201110457151.6申请日：20111230公开号：CN103185734A公开日：20130703
摘要：公开了一种测量物体的有效原子序数的方法和设备。该设备包括：射线源，产生第一能量的第一X射线束和第二能量的第二X射线束；切伦科夫探测器，接收透射被检查物体的第一X射线束和第二X射线束，产生第一探测值和第二探测值；数据处理装置，基于第一探测值和第二探测值得到被检查物体的有效原子序数。由于切伦科夫探测器能够消除特定阈值下的X射线束的影响，所以提高了物质识别的准确度。
申请人：同方威视技术股份有限公司,清华大学
地址：100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层
国籍：CN
代理机构：中科专利商标代理有限责任公司
代理人：王波波
更多信息请下载全文后查看
因篇幅问题不能全部显示，请点此查看更多更全内容